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统一光路消除两套设备数据偏差 |
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| 本设备集成 EL 电致发光与 PL 光致发光双模式检测,适配钙钛矿、柔性及叠层电池样品。可识别晶界不均、针孔、隐裂等各类微观缺陷,支持单模与双模同步成像。配备双相机实现大小样品兼容检测,光斑均匀性优异,可完成缺陷成像与灰度统计分析,为材料研究与工艺迭代提供检测支撑。 |
钙钛矿电池 EL+PL 测试仪产品介绍
本设备为一体化高精度缺陷检测设备,集成 EL 电致发光与 PL 光致发光两大检测模式,适配钙钛矿电池、柔性钙钛矿电池、晶硅‑钙钛矿叠层电池,广泛用于高校科研、企业研发、中试及量产质控场景。设备可识别晶界不均、针孔、划痕、破裂、串联异常等缺陷,一次装夹即可完成单模或双模同步成像检测。

设备标准有效测试面积 300×300mm,可定制,测试节拍≤1S(不含上下料),检测灵敏度≥50μm,分辨率≥0.1mm/pixel。搭载双相机系统,1200 万像素长焦相机适配微小样品,2000 万像素短焦相机覆盖大尺寸样品。EL 模块供电 0‑120V、0‑2A,具备过压、过流、短路、漏电保护,曝光时间 0.1‑30s 可调。PL 模块可选 450/915/980nm 半导体激光,激光功率 25W 可调,光斑均匀性≥90%,激发时间 100ms‑10s 可调。
配套专业软件,支持模式自由切换、条码录入、缺陷识别、热力图显示、灰度统计与图像存储。整机重量 120KG,工作环境温度 0‑50℃、湿度 10%‑85%,手动上下料,可完成材料本征缺陷与器件电学缺陷双向表征,为材料改良、工艺迭代、缺陷追溯提供完整检测数据支撑。 |
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