钙钛矿晶硅叠层组件 EL 测试仪・产品介绍

产品简介

钙钛矿 / 晶硅叠层组件 EL 测试仪，是面向新一代叠层光伏组件研发、质检与出厂验收打造的电致发光无损检测设备。设备采用双光谱分层成像技术，可分别采集钙钛矿顶电池与晶硅底电池的电致发光信号，精准判定缺陷所属层级，解决传统 EL 设备无法区分叠层器件缺陷来源的痛点。设备兼容多种光伏器件样品，适用于实验室研发、产线质检等场景，为叠层组件工艺迭代与质量管控提供可靠的检测解决方案。

功能特点

● 双光谱分层检测 采用双波段红外成像技术，独立采集钙钛矿层与晶硅层发光信号，实现双层结构缺陷分离成像与精准定位，识别隐裂、断栅、虚焊、针孔、界面分离、衰减等各类内部缺陷。

● 高灵敏度红外成像 搭载高分辨率红外相机，成像细腻、信噪比高，可捕捉组件内部微小损伤，检出虚焊、发黑、局部衰减、栅线异常等不易察觉的问题。

● 稳定高效，支持长时间作业 整机性能稳定，检测效率高，可实现 24 小时不间断连续工作，适配高强度检测任务；机械结构优化，拆装维护简单，保障整机长期稳定输出。

● 全封闭暗场设计 一体化全封闭暗室结构，隔绝外界杂光干扰，成像画质干净，无需单独搭建暗房，普通车间、实验室环境即可开展检测工作。

● 智能软件，操作便捷 配套光伏专用控制软件，人机交互简单。支持条码扫描录入、样品文件命名归档、恒流源调控；具备图像放大、历史影像检索功能，方便缺陷分析与数据追溯。

应用场景

高校科研实验室：钙钛矿‑晶硅叠层器件失效分析、工艺研究、毕业设计样品表征。
企业研发中心：叠层电池工艺开发、样品对比测试，快速定位制备过程产生的各类缺陷。
中试产线质检工位：叠层组件试制过程质量筛查，辅助工艺优化。
样品出厂验收：完成单结钙钛矿、PERC/TOPCon/HJT 晶硅组件的 EL 缺陷检测验收。

使用注意事项

设备需在规定温湿度环境下运行，避免温湿度超标影响成像质量与设备寿命。
测试样品轻拿轻放，防止电池片磕碰碎裂，避免短路造成器件与设备损伤。
全封闭暗室工作期间，请勿随意开启舱门，防止外界强光损伤相机传感器。
严格按照软件规程设置激励电源参数，禁止超压超流对样品进行测试。
定期做好镜头、暗室内部除尘维护，保障成像清晰度；故障请勿自行拆机，联系厂家技术人员处理。

技术参数

项目	参数
设备名称	钙钛矿叠层组件 EL 测试仪
产品型号	YHGTK‑EL
检测组件类型	钙钛矿 / 晶硅叠层电池、常规晶硅电池（PERC/TOPCon/HJT）、单结钙钛矿电池
相机类型	定制工业相机
分辨率	2500 万像素
拍摄模式	双相机向下拍摄
灵敏度	可检测出裂纹宽度小于 0.03mm
有效测试面积	大：706906mm；小：300300mm
图像采集时间	100~700ms（可调）
程控直流电源电压	0‑200V（可调）
程控直流电源电流	0‑20A（可调）
环境控制	全封闭自动化暗室
环境要求	温度 20～25℃，湿度 30%～60%
条码输入	可手自动输入条码编号
电源	220V/50HZ
设备重量	600KG
整机尺寸	110010001900mm